新生儿缺氧缺血性脑病与围产期动脉缺血性卒中的关联研究

脑损伤是婴儿死亡和长期残疾的主要原因之一。其中最常见的类型之一是新生儿缺氧缺血性脑病（HIE），每年每1000例活产中有1至3例受到影响，占全球婴儿死亡率的22%。稍少一些的是围产期动脉缺血性卒中（PAIS）。

这两种情况都可能影响中枢神经系统，导致出生后的脑损伤和癫痫发作，并在儿童成长过程中引起神经和发育问题。

尽管HIE和PAIS在纸面上看起来相似，但发表在《儿科研究》杂志上的一项研究指出，它们的潜在机制是不同的。HIE是由大脑血液流动和氧气供应的全面减少引起的，而PAIS则是由血栓进入大脑的主要动脉血管引起的。

目前，HIE的标准治疗方法是一种旨在减缓因缺氧引发的细胞和分子损伤及炎症的脑冷却疗法。

利用一项大型多中心临床试验的数据，包括Jessica Wisnowski博士在内的研究人员，开始探索PAIS在被诊断为HIE的婴儿中的发生频率。他们还试图将PAIS的存在与临床特征（如癫痫发作的风险、脑复温后的脑病发生率以及2岁时的神经发育结果）进行关联。

研究设置和结果

研究数据包括在分娩后六小时内被诊断为中度或重度HIE并参与HEAL试验的473名婴儿，他们都接受了脑部MRI检查。

研究人员发现：

• 4%的中度至重度HIE婴儿在MRI上显示出PAIS的证据。

• 四分之三的PAIS婴儿也表现出HIE模式的脑损伤，并经历了比没有PAIS的婴儿更严重的并发症。

• PAIS婴儿的癫痫发作更为常见。

• PAIS婴儿在治疗五天后更有可能持续出现中度或重度脑病。

• 尽管有大量HIE婴儿，但只有21名婴儿患有PAIS，这限制了研究人员检测两年后结果统计显著差异的能力。

尽管研究人员在理解HIE和PAIS共同发生率方面取得了进展，但仍需要更多研究来了解这两种不同新生儿脑损伤的确切时间和发病机制。

可能的解释包括：

• HIE和PAIS具有类似的风险因素，如绒毛膜羊膜炎和胎盘疾病。

• HIE可能需要体外膜氧合（ECMO）治疗，而ECMO本身就是卒中的风险因素，在PAIS婴儿中更为常见。

• 劳动和分娩期间发生的PAIS可能导致更困难和更长时间的分娩，从而增加HIE的风险。

研究结果表明，大规模研究有助于改善新生儿脑损伤的干预措施。

“这项研究强调了脑部MRI在识别接受HIE低温治疗的婴儿的所有脑损伤原因的重要性，”Wisnowski博士说。“我们希望这项研究能指导这些导致婴儿死亡和长期残疾的主要原因的诊断和治疗进展。”

更多信息：Fernando F. Gonzalez等人，《接受低温治疗的HIE婴儿中诊断出的围产期动脉缺血性卒中》，《儿科研究》（2024）。DOI: 10.1038/s41390-024-03531-7

提供者：洛杉矶儿童医院

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